A félvezetők hibáinak jellemzése és ellenőrzése

Eredeti címe:

Characterisation and Control of Defects in Semiconductors

Könyv tartalma:

Ez a könyv a félvezetők hibáinak tanulmányozására használt kísérleti és elméleti módszerek naprakész áttekintése, és az új anyagok, köztük a nitridek, az oxid félvezetők és a 2D félvezetők igényei által vezérelt legújabb fejlesztésekre összpontosít.

A nemzetközi kutatócsoport által írt és a terület egyik elismert kutatója által szerkesztett könyv alaposan tárgyalja a különféle jellemzési technikákat, és módszereket javasol a hibák és ezáltal a félvezetők tulajdonságainak szabályozására.