Characterisation and Control of Defects in Semiconductors
Ez a könyv a félvezetők hibáinak tanulmányozására használt kísérleti és elméleti módszerek naprakész áttekintése, és az új anyagok, köztük a nitridek, az oxid félvezetők és a 2D félvezetők igényei által vezérelt legújabb fejlesztésekre összpontosít.
A nemzetközi kutatócsoport által írt és a terület egyik elismert kutatója által szerkesztett könyv alaposan tárgyalja a különféle jellemzési technikákat, és módszereket javasol a hibák és ezáltal a félvezetők tulajdonságainak szabályozására.