The Practice of TOF-SIMS: Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry
A repülési idejű másodlagos ion tömegspektrometria, TOF-SIMS, egy nagy felületi érzékenységű analitikai technika, amely szubmikronos oldalsó felbontással ad információt az összetételről. Kiválasztott anyagok esetében a TOF-SIMS páratlan érzékenységet biztosít kiváló reprodukálhatóság mellett, és mint tömegspektrometriai technika, kiváló specificitást is biztosít.
A rendelkezésre álló analitikai módszerek közül ez az egyik legfelületérzékenyebb, de az alapjául szolgáló fizikai elvek is a legkevésbé ismertek. Ez a kötet ismerteti a műszereket, a technika mögött meghúzódó fizikai elveket, amennyire azok megérthetők, és gyakorlati megközelítést nyújt a TOF-SIMS-adatok értelmezéséhez.
A fejlett adatfeldolgozási módszerek, például a többváltozós statisztika használatát könnyen megközelíthető módon ismerteti. Az alapfokú kémiai és fizikai alapismeretek birtokában a könyv minden, a technika iránt érdeklődő hallgató számára hasznos lehet.