Aberrációval korrigált képalkotás a transzmissziós elektronmikroszkópiában: Bevezetés (2. kiadás)

Olvasói vélemények

Jelenleg nincsenek olvasói vélemények. Az értékelés 5 olvasói szavazat alapján történt.

Eredeti címe:

Aberration-Corrected Imaging in Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition)

Könyv tartalma:

Az Aberráció-korrigált képalkotás a transzmissziós elektronmikroszkópiában bevezetést nyújt az aberráció-korrigált atomi felbontású elektronmikroszkópos képalkotásba az anyag- és fizikatudományokban. Mind a széles sugárnyalábos transzmissziós módot (TEM; transzmissziós elektronmikroszkópia), mind a pásztázó transzmissziós módot (STEM; pásztázó transzmissziós elektronmikroszkópia) tárgyalja.

A könyv három részre tagolódik. Az első rész a hagyományos atomfelbontású elektronmikroszkópiai képalkotás alapjait mutatja be TEM és STEM üzemmódban. Ez a rész ismerteti a hagyományos elektronmikroszkópok korlátait és a lehetséges artefaktumokat is, amelyeket az ilyen műszereknél elkerülhetetlenül előforduló saját lencse-aberrációk okoznak.

A második rész alapvető elektronoptikai fogalmakat mutat be, és így rövid bevezetést nyújt az elektronoptikába. A könyv első és második része alapján a harmadik rész az aberrációkorrekcióra összpontosít; ismerteti az elektronmikroszkópiában előforduló különböző aberrációkat, és bemutatja a szférikus aberráció-korrektorok és a fejlett aberráció-korrektorok fogalmát, beleértve a kromatikus aberráció korrekcióját is.

Ez a rész útmutatást ad arra vonatkozóan is, hogyan optimalizálhatók a képalkotási feltételek az atomfelbontású STEM és TEM képalkotáshoz. Ezt a második kiadást teljesen átdolgoztuk és frissítettük, hogy beépítsük a legfrissebb technológiai és tudományos eredményeket, amelyeket az első kiadás 2010-es megjelenése óta elértünk.