Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology
Ez a könyv ismerteti a modern fókuszált ionnyaláb-mikroszkópokat és technikákat, valamint azt, hogyan használhatók az anyagmetrológia segítésére és olyan eszközök gyártásának eszközeiként, amelyeket az alapvető metrológia számos más területén használnak.
© Book1 Group - minden jog fenntartva.
Az oldal tartalma sem részben, sem egészben nem másolható és nem használható fel a tulajdonos írásos engedélye nélkül.
Utolsó módosítás időpontja: 2024.11.13 21:05 (GMT)
