Bevezetés a szekunder ion tömegspektrometriába (Tof-Sims) és annak anyagtudományi alkalmazásába

Olvasói vélemények

Jelenleg nincsenek olvasói vélemények. Az értékelés 2 olvasói szavazat alapján történt.

Eredeti címe:

An Introduction to Time-Of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (Tof-Sims) and Its Application to Materials Science

Könyv tartalma:

A sötét anyag vizsgálata mind az asztrofizikában, mind a részecskefizikában az utóbbi évek egyik legaktívabb és legizgalmasabb kutatási témájává vált.

Ez a könyv áttekinti az Univerzumban hiányzó tömeg (vagy láthatatlan tömeg) felfedezésének történetét, és összekapcsolja ezt a részecskefizika Standard Modelljének javasolt kiterjesztéseivel (például a szuperszimmetriával), amelyeket ugyanebben az időszakban javasoltak. Ez a könyv bevezetésként íródott ezekbe az asztrofizika és a részecskefizika élvonalába tartozó problémákba, azzal a céllal, hogy a sötét anyag fizikáját a természettudományos szakok kezdő alapszakos hallgatói számára is közvetítse.

A könyv a továbbiakban ismerteti a meglévő és a közeljövőben induló kísérleteket és technikákat, amelyekkel a sötét anyagot akár közvetlenül, akár közvetve detektálni lehet.