Bevezetés a vékonyrétegű anyagok spektroszkópiai ellipszometriájába: Műszerek, adatelemzés és alkalmazások

Bevezetés a vékonyrétegű anyagok spektroszkópiai ellipszometriájába: Műszerek, adatelemzés és alkalmazások (Xinmao Yin)

Eredeti címe:

Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis, and Applications

Könyv tartalma:

Egyedülálló szöveg, amely bevezetést nyújt a spektroszkópiai ellipszometria újszerű anyagjellemzésre való használatába.

A Bevezetés a vékonyrétegű anyagok spektroszkópiai ellipszometriájába: A kiváló kutatók egy csoportja éleslátóan mutatja be, hogyan használják a spektroszkópiai ellipszometria hagyományos kísérleti technikáját az új anyagok saját tulajdonságainak jellemzésére. A könyv középpontjában a tudományosan és technológiailag fontos kétdimenziós átmeneti fémdikalcogenidek (2D-TMD-k), a manganit anyagokhoz hasonló mágneses oxidok és a nem hagyományos szupravezetők, köztük a réz-oxid rendszerek állnak.

A kiváló szerzők az új kvantumanyagok tulajdonságainak, például az elektronszerkezeteknek, a határfelületi tulajdonságoknak és az ebből következő kvázirészecske-dinamikának a jellemzését tárgyalják. A könyv szemléltető és konkrét esettanulmányok mellett azt is bemutatja, hogyan használják a spektroszkópiai ellipszometriát az újszerű rendszerek optikai és kvázirészecske-tulajdonságainak vizsgálatára: Alapos bevezetés a spektroszkópiai ellipszometria alapelveibe és az erősen korrelált rendszerekbe, beleértve a rézoxidokat és manganitokat A kétdimenziós átmeneti fémdikalcogenidek átfogó vizsgálata Az egyrétegű grafénrendszerek és a nikkelátrendszerek gyakorlati tárgyalása A spektroszkópiai ellipszometria lehetséges jövőbeli fejlesztéseinek és alkalmazásainak mélyreható vizsgálata.

A fizika és kémia mester- és doktorandusz hallgatók számára kiválóan alkalmas Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials (Bevezetés a vékonyréteg-anyagok spektroszkópiai ellipszometriájába) azoknak az anyagtudományi tanulmányokat folytatóknak a könyvtárában is helyet fog kapni, akik a spektroszkópiai ellipszometria újonnan kifejlesztett anyagokra való alkalmazásáról keresnek egy egyablakos referenciát.

A könyv egyéb adatai:

ISBN:9783527349517
Szerző:
Kiadó:
Nyelv:angol
Kötés:Puha kötés
A kiadás éve:2022
Oldalak száma:208

Vásárlás:

Jelenleg kapható, készleten van.

A szerző további könyvei:

Bevezetés a vékonyrétegű anyagok spektroszkópiai ellipszometriájába: Műszerek, adatelemzés és...
Egyedülálló szöveg, amely bevezetést nyújt a...
Bevezetés a vékonyrétegű anyagok spektroszkópiai ellipszometriájába: Műszerek, adatelemzés és alkalmazások - Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis, and Applications

A szerző munkáit az alábbi kiadók adták ki:

© Book1 Group - minden jog fenntartva.
Az oldal tartalma sem részben, sem egészben nem másolható és nem használható fel a tulajdonos írásos engedélye nélkül.
Utolsó módosítás időpontja: 2024.11.13 21:05 (GMT)