Electromigration in Metals - Fundamentals to Nano-Interconnects (Ho Paul S. (University of Texas Austin))
Ebből az átfogó forrásból megtanulhatja az elektromigrációs megbízhatóság értékelését, és rugalmasabb chipeket tervezhet.
Ez a könyv az alapvető fizikai ismeretektől a fejlett módszerekig építkezve lehetővé teszi az olvasó számára, hogy rendkívül megbízható, chipen belüli vezetékkötegeket és energiahálózatokat fejlesszen ki. Ideális szöveg anyagtudósok és chiptervező mérnökök számára.