Advanced VLSI Design and Testability Issues
Ez a könyv a VLSI iránt érdeklődők számára nemcsak a mélyreható ismeretekkel, hanem a széleskörű aspektusokkal is megkönnyíti a VLSI alkalmazását a különböző területeken, többek között a képfeldolgozás és az orvosbiológia területén. Az alapfogalmak mély megértése erőt ad egy új alkalmazási szempont kidolgozásához, amelyről ebben a könyvben nagyon jól gondoskodik a fogalmak egyszerű nyelvezetű magyarázatával.
A VLSI világában nem lehet figyelmen kívül hagyni a hardverleíró nyelvek fontosságát, mivel az ilyen sűrű és összetett áramkörök tervezése nem lehetséges nélkülük. Itt mind a Verilog, mind a VHDL nyelveket használják a tervezéshez. A nagy teljesítményű integrált áramkörök (IC-k) jelenlegi igényei, beleértve az alacsony fogyasztású eszközöket és az újonnan megjelenő anyagokat, amelyek nagyon fontos szerepet játszhatnak az új funkciók elérésében, a könyv legérdekesebb részét képezik.
A VLSI-áramkörök tesztelése ebben a nanométeres technológiai korszakban sokkal fontosabbá válik, mint az áramkörök tervezése.
A hibaszimulációs algoritmusok szerepe nagyon jól ki van fejtve, és ennek Veriloggal történő megvalósítása a könyv legfontosabb szempontja. Ez a könyv 20 fejezetre tagolódik.
Az 1. fejezet az FPGA különféle képfeldolgozási és orvosbiológiai alkalmazásokban való felhasználását hangsúlyozza. Ezután a 2-5.
fejezetben a leírások megvilágítják a digitális tervezés alapvető megértését a HDL szempontjából. A 6. és 7.
fejezetben a szilícium-alapú FET-tervek teljesítménynövelése alternatív anyaggal vagy geometriával áll a középpontban. A 8.
és 9. fejezetek a bimolekuláris kölcsönhatások tanulmányozását írják le a bioérzékelő FET-ekkel. A 10-13.
fejezetek a különböző formákban, anyagokban, például nanodrótokban, HFET-ben rendelkezésre álló fejlett FET-szerkezetekkel és azok összehasonlításával foglalkoznak az eszköz teljesítménymetrikáinak számítása szempontjából.
A 14-18. fejezetek az analóg és digitális áramkörök tervezésének különböző alkalmazásspecifikus VLSI-tervezési technikáit és kihívásait ismertetik. A 19.
fejezet a VLSI tesztelhetőségi kérdéseket ismerteti a szimuláció leírásával és annak logikai és hibaszimulációra történő kategorizálásával a Verilog HDL használatával történő tesztminta-generáláshoz. A 20. fejezet a hardveres obfuszkációval biztosított VLSI-tervezéssel foglalkozik az IC szerkezetének és funkciójának elrejtésével, ami sokkal nehezebbé teszi a visszafejtést.
