Félvezető memóriák: Technológia, tesztelés és megbízhatóság

Olvasói vélemények

Jelenleg nincsenek olvasói vélemények. Az értékelés 2 olvasói szavazat alapján történt.

Eredeti címe:

Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability

Könyv tartalma:

A félvezető memóriák alapos lefedettséget biztosít a tesztelésre való tervezés, a hibatűrés, a hibamódok és -mechanizmusok, valamint a szűrési és minősítési módszerek területén, beleértve.

* Memóriacellaszerkezetek és gyártási technológiák.

* Alkalmazásspecifikus memóriák és architektúrák.

* Memóriatervezés, hibamodellezés és tesztelési algoritmusok, korlátok és kompromisszumok.

* Űrkörnyezet, sugárzásálló eljárás és tervezési technikák, valamint sugárzásvizsgálat.

* Memória stackek és multichip modulok gigabájtos tároláshoz.