Fókuszált ionnyalábrendszerek: Iones Iones: Alapok és alkalmazások

Olvasói vélemények

Jelenleg nincsenek olvasói vélemények. Az értékelés 3 olvasói szavazat alapján történt.

Eredeti címe:

Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications

Könyv tartalma:

A fókuszált ionnyaláb (FIB) rendszer fontos eszköz az anyagok szerkezetének nanoszintű megértéséhez és manipulálásához.

Ezt a rendszert egy elektronsugárral kombinálva egy DualBeam-et hoz létre - egy olyan rendszert, amely képalkotó, analitikai és mintamódosító eszközként is működhet. A FIB-technika elveit, képességeit, kihívásait és alkalmazásait bemutató, először 2007-ben megjelent szerkesztett kötet átfogóan foglalkozik az ionnyaláb-technológiával, beleértve a DualBeam-et is.

Az ionnyaláb és a kétsugaras rendszerek alapelvei, az anyagokkal való kölcsönhatásuk, a maratás és a leválasztás mind szerepelnek benne, csakúgy, mint az in situ anyagjellemzés, a mintaelőkészítés, a háromdimenziós rekonstrukció, valamint a bioanyagok és a nanotechnológia alkalmazásai. Mivel a nanoszerkezetű anyagok egyre fontosabbá válnak a mikromechanikai, elektronikus és mágneses eszközökben, ez az önálló áttekintés az ionnyalábos módszerek köréről, előnyeikről és arról, hogy mikor érdemes alkalmazni őket, értékes forrás az anyagtudomány, az elektrotechnika és a nanotechnológia kutatói számára.