Másodlagos ion tömegspektrometria: Mélységi profilalkotás és felületi jellemzés alkalmazásai

Olvasói vélemények

Jelenleg nincsenek olvasói vélemények. Az értékelés 2 olvasói szavazat alapján történt.

Eredeti címe:

Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization

Könyv tartalma:

Ezt a könyvet azért írták, hogy elmagyarázzon egy olyan technikát, amely számos részlet megértését igényli a kapott adatok megfelelő megszerzéséhez és értelmezéséhez.

Emellett referenciaként is szolgál azok számára, akiknek SIMS-adatokat kell szolgáltatniuk. A könyv több mint 200 ábrát tartalmaz, és a hivatkozások lehetővé teszik a SIMS fejlődésének nyomon követését és a technika számos részletének megértését.