Neutron- és röntgenreflektometria: Új jelenségek a heteroszerkezeti határfelületeken

Eredeti címe:

Neutron and X-ray Reflectometry: Emerging phenomena at heterostructure interfaces

Könyv tartalma:

Az ultravékony filmek, a nanoanyagok egyik alcsoportja, az elmúlt 30 évben a kutatások fellendülését élte meg. A vizsgálatokat elsősorban neutron- és röntgenreflektometriával végezték.

A polarizált neutronreflektometria vagy PNR technikája egyedülálló roncsolásmentes eszköz a vékonyrétegek mágnesességének megértéséhez mezoszkopikus hosszskálán. Ez a könyv bemutatja a röntgen- és neutronreflektometriás technikákat, és azt, hogy hogyan használhatók a vékonyrétegek és többrétegű rétegek határfelületi szerkezetének és mágnesességének mezoszkopikus hosszskálán történő feltárására. A szöveg a neutron- és röntgenreflexió alapelveivel és a neutronreflexió különböző módozataival foglalkozik, számos hasznos példával.

A referenciaszöveg hasznos a vékonyrétegek és többrétegű rétegek határfelületi mágnesességének területén dolgozó kutatóhallgatók számára. Főbb jellemzők: Bevezeti az olvasót a reflektometria, különösen a polarizált neutronreflektometria és a röntgenreflektometria területébe.

Megismerteti a kutatókat a vékonyrétegek határfelületi tulajdonságainak fontosságával. Példákon keresztül mutatja be, hogyan lehet a tulajdonságokat szubnanométeres felbontással meghatározni.

Összefoglalót ad számos korabeli példával és hivatkozással.