Értékelés:
Jelenleg nincsenek olvasói vélemények. Az értékelés 2 olvasói szavazat alapján történt.
X-Ray Fluorescence Spectrometry and Related Techniques: An Introduction
A röntgenfluoreszcens spektrometria (XRF) jól bevált analitikai technika a rutinszerű minőségellenőrzési és kutatási minták széles skálájának minőségi és mennyiségi elemanalízisére. Számos kívánatos tulajdonsága között szerepel a valódi többelemes karakterelemzés, az elfogadható sebesség és gazdaságosság, a könnyű automatizálhatóság és a szilárd minták elemzésére való képesség.
Ez a figyelemre méltó hozzájárulás e területhez átfogó és naprakész beszámolót nyújt az XRF-analízis alapelveiről, legújabb fejlesztéseiről, műszerezéséről, mintaelőkészítési eljárásairól és alkalmazásairól. Ha Ön az anyagtudomány, az analitikai kémia vagy a fizika szakembere, nemcsak az alapok áttekintéséből, hanem az újonnan kifejlesztett XRF-technológiákból is profitálhat.
Ezek a közelmúltbeli technológiai fejlesztések, beleértve a kis teljesítményű mikrofókuszcsövek és az újszerű röntgenoptikák és detektorok tervezését, lehetővé tették az XRF kiterjesztését az alacsony Z-értékű elemek elemzésére, valamint a mikrométeres méretű 2D vagy 3D információk megszerzését. A közelmúltban kifejlesztett és kereskedelmi forgalomba hozott, rendkívül egyszerű működést és alacsony költségű kialakítást kínáló asztali és hordozható műszerek pedig számos további analitikai problémára is kiterjesztették az XRF alkalmazását.
© Book1 Group - minden jog fenntartva.
Az oldal tartalma sem részben, sem egészben nem másolható és nem használható fel a tulajdonos írásos engedélye nélkül.
Utolsó módosítás időpontja: 2024.11.13 21:05 (GMT)