Vizsgálati módszerek az elektronikus áramkörökben előforduló hibák felderítésére

Eredeti címe:

Testing Methods For Fault Detection In Electronic Circuits

Könyv tartalma:

Ez a könyv két, beépített érzékelőkön (BIS) alapuló vizsgálati módszert és egy optimalizáláson alapuló technikát tartalmaz. Az első rész két újszerű beépített érzékelőt (BIS) javasol a digitális CMOS- és analóg áramkörök teszteléséhez.

A BIS-ek nem rendelkeznek feszültségromlással, képesek a nyitott és rövidzárlatos hibák észlelésére, azonosítására és lokalizálására, egyszerű megvalósításokkal rendelkeznek, nagyon kis területtel és észlelési idővel. A BIS-t egy 4x4-es szorzócella tesztelésére használják, ahol az összes bejuttatott hibát észlelik és lokalizálják. A másik BIS az analóg áramkörök tesztelésére szolgál.

Két jól ismert analóg építőelem, az áram-visszacsatolásos műveleti erősítő (CFOA) és a műveleti tranzisztoros erősítő (OTRA) tesztelésére alkalmazzák. A javasolt BIS az analóg blokkok végponti jellemzőit teszteli.

Szimulációkat végeznek a CFOA alapú univerzális analóg szűrő és egy OTRA alapú univerzális szűrő tesztelésére. A második rész egy tesztelési algoritmust javasol az analóg áramkörökben az egyszerű és kettős paraméteres hibák felismerésére a CUT tényleges paraméterértékeinek becslésével.

Az algoritmust egy Sallen-Key másodrendű sávszűrőre alkalmazzuk, és a szimulációk azt mutatják, hogy minden bejuttatott hiba helyesen észlelhető és diagnosztizálható.