
Advances in Imaging and Electron Physics: Volume 225
Az Advances in Imaging and Electron Physics, 226.
kötet két régóta futó sorozatot, az Advances in Electronics and Electron Physics és az Advances in Optical and Electron Microscopy címűeket egyesíti. A jelen kiadás fejezetei a következőkkel foglalkoznak: Nanoanyagok tulajdonságainak jellemzése FE-TEM segítségével, Hideg téremissziós elektronforrások: A nagyobb fényerősségtől az ultragyors sugarakig, Minden elektron számít: Az aberrációra optimalizált és aberrációval korrigált elektronforrások fejlesztése felé, és még sok más.
A sorozatban az elektroneszközök (különösen a félvezető eszközök) fizikájáról, a nagy és kis energiájú részecskeoptikáról, a mikrolitográfiáról, a képtudományról, a digitális képfeldolgozásról, az elektromágneses hullámterjedésről, az elektronmikroszkópiáról és a mindezen területeken alkalmazott számítási módszerekről olvashatók cikkek.