Az Advances in Imaging and Electron Physics sorozatban áttekintett témák a mikroszkópia, az elektromágneses mezők és a képkódolás széles körét ölelik fel. Ez a kötet a mikroszkópiára és a mintafelismerésre, valamint az elektronfizikára koncentrál.
E témák közül több is szerepel ebben a kötetben, amelyet egy hosszú, monográfia jellegű fejezet nyit, amely az atomi felbontás szintjén történő kvantitatív elektronmikroszkópiáról szól, és amelyet az Antwerpeni Egyetem egyik jól ismert és igen tekintélyes laboratóriumának tudósai írtak. Ez egyedülálló abban a tekintetben, hogy a statisztikai szempontokat teljes mértékben feltárja. Ezt követi A. M. Grigoryan és S. S. Again hozzájárulása a transzformáción alapuló képjavításról, amely mind a frekvencia-rendszerű rendszerekre, mind a tenzoros megközelítésekre kiterjed. A kötetet Maria Petrou (University of Surrey) a képregisztráció problémáiról és megoldási lehetőségeiről szóló beszámolója zárja; külön-külön vizsgálják a jellemződetektálást, a kapcsolódó képtranszformációkat és a minőségi méréseket.
A szöveg hidat képez az akadémiai kutatók és a K+F tervezők közötti szakadék között a mindennapi problémák kezelésével és megoldásával, ami ezt a könyvet alapvető olvasmánnyá teszi.
