Tudományos kutatások az atomerő-mikroszkópiával kapcsolatban

Eredeti címe:

Scientific Researches in Atomic Force Microscopy

Könyv tartalma:

Ez a könyv az atomerő-mikroszkópia területén végzett tudományos kutatásokat világítja meg.

Az atomerő-mikroszkóp (AFM) feltalálása drasztikus változásokat hozott a felületelemzés területén. Kritikus vizsgálati eszköznek és módszernek bizonyult, amelyet a felületek minőségi és mennyiségi vizsgálatára használnak nanométer alatti felbontással.

Ráadásul az ezzel a mikroszkóppal elemzett minták nem igényelnek előzetes előkészítő eljárásokat. Ez megakadályozza a mintát károsító változtatásokat vagy káros hatásokat, miközben lehetővé teszi a külső felület háromdimenziós vizsgálatát. Ez a könyv e módszer mestereinek legújabb munkáit mutatja be világszerte.

Ez a módszer a legkülönfélébb területeken könnyen elfogadottá vált a fontos információk megszerzésében. Az 1986-os bevezetése óta a gyártási, kutatási és fejlesztési területeken számos felhasználási lehetőséget talált.