Scientific Researches in Atomic Force Microscopy
Ez a könyv az atomerő-mikroszkópia területén végzett tudományos kutatásokat világítja meg.
Az atomerő-mikroszkóp (AFM) feltalálása drasztikus változásokat hozott a felületelemzés területén. Kritikus vizsgálati eszköznek és módszernek bizonyult, amelyet a felületek minőségi és mennyiségi vizsgálatára használnak nanométer alatti felbontással.
Ráadásul az ezzel a mikroszkóppal elemzett minták nem igényelnek előzetes előkészítő eljárásokat. Ez megakadályozza a mintát károsító változtatásokat vagy káros hatásokat, miközben lehetővé teszi a külső felület háromdimenziós vizsgálatát. Ez a könyv e módszer mestereinek legújabb munkáit mutatja be világszerte.
Ez a módszer a legkülönfélébb területeken könnyen elfogadottá vált a fontos információk megszerzésében. Az 1986-os bevezetése óta a gyártási, kutatási és fejlesztési területeken számos felhasználási lehetőséget talált.
