Pásztázó elektronmikroszkópia és röntgenmikroanalízis: Harmadik kiadás

Olvasói vélemények

A pásztázó elektronmikroszkópiáról (SEM) szóló könyv nagyra értékelt, átfogó és hozzáférhető forrásként szolgál mind a kezdők, mind a tapasztalt felhasználók számára. Világosan és tömören tárgyalja az alapelveket és a technikai részleteket, így kiváló választás a SEM-mel dolgozók számára. Bár a könyvet dicsérik a szervezéséért, az illusztrációkért és az információk mélységéért, néhány olvasó megjegyzi, hogy időnként terjedelmes lehet, és vannak kisebb problémák a szállítással és az állapottal kapcsolatban.

Világos és tömör írásmód, jól illusztrált, szervezett felépítés, az alapokat és a részletes műszaki tartalmat egyaránt lefedi, kezdők és tapasztalt felhasználók számára egyaránt alkalmas, kiváló referenciaanyag, elfogadható ár.

Néhol kissé terjedelmes, kisebb szállítási késésekről számoltak be, néhány példánynál állapotbeli problémák (meglazult oldalak), néhány felhasználó megemlíti, hogy az egyenleteken lehetne javítani.

(24 olvasói vélemény alapján)

Eredeti címe:

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition

Könyv tartalma:

Ez a hallgatók és szakemberek számára egyaránt ideális szöveg, amely átfogó bevezetést nyújt a pásztázó elektronmikroszkópia (SEM) és a röntgenmikroanalízis területére.

A szöveget több mint 3000 hallgató oktatásában használták a Lehigh SEM rövid kurzusán, valamint több ezer egyetemi és főiskolai hallgató oktatásában világszerte. A szerzők a leírt technikák gyakorlati szempontjait hangsúlyozzák.

A tárgyalt témák között szerepelnek a pásztázó elektronmikroszkópok és röntgenspektrométerek felhasználó által vezérelt funkciói, valamint a röntgensugarak használata minőségi és mennyiségi elemzésre. Külön fejezetek foglalkoznak a kemény anyagok, polimerek és biológiai minták SEM-mintakészítési módszereivel.