Pásztázó elektronmikroszkópia és röntgenmikroanalízis: Harmadik kiadás

Olvasói vélemények

A pásztázó elektronmikroszkópiáról (SEM) szóló könyv túlnyomórészt pozitív értékeléseket kap a felhasználóktól, sokan dicsérik a könyv áttekinthetőségét, szervezettségét és átfogó jellegét. Mind a kezdők, mind a tapasztalt felhasználók számára végleges referenciaként emlegetik. A felhasználók nagyra értékelik az illusztrációkat és a közérthető írásmódot, amely az összetett fogalmakat is közérthetőbbé teszi. Egyes kritikák azonban szószátyárságot és néhány kapott példány állapotával kapcsolatos problémákat említenek.

⬤ Jól szervezett és informatív
⬤ világos és tömör írás
⬤ könnyen használható mind a kezdők, mind a tapasztalt felhasználók számára
⬤ kiváló illusztrációk
⬤ a SEM alapjainak és technikáinak átfogó lefedése
⬤ gyors szállítás
⬤ az új példányok jó állapota.

⬤ Néhány vélemény időnként szószátyárságot említ
⬤ néhány példányt nem kifogástalan állapotban kaptunk
⬤ az Amazon szállítási ideje hosszabb volt a vártnál.

(24 olvasói vélemény alapján)

Eredeti címe:

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition

Könyv tartalma:

Ez a hallgatók és szakemberek számára egyaránt ideális szöveg, amely átfogó bevezetést nyújt a pásztázó elektronmikroszkópia (SEM) és a röntgenmikroanalízis területére.

A szöveget több mint 3000 hallgató oktatásában használták a Lehigh SEM rövid kurzusán, valamint több ezer egyetemi és főiskolai hallgató oktatásában világszerte. A szerzők a leírt technikák gyakorlati szempontjait hangsúlyozzák.

A tárgyalt témák között szerepelnek a pásztázó elektronmikroszkópok és röntgenspektrométerek felhasználó által vezérelt funkciói, valamint a röntgensugarak használata minőségi és mennyiségi elemzésre. Külön fejezetek foglalkoznak a kemény anyagok, polimerek és biológiai minták SEM-mintakészítési módszereivel.